|
【半導體封測產線 AI 品管實務】製程資料分析、Wafer Map 缺陷辨識與 AOI 異常檢測
5 月22

【半導體封測產線 AI 品管實務】製程資料分析、Wafer Map 缺陷辨識與 AOI 異常檢測

Posted By on 5 月 22, 2026 in

本課程以封測品管現場常見的良率、缺陷與 AOI 資料為核心， [...]

Read More